Bertram Schäfer gründete vor nun über 25 Jahren die Firma STATCON als Unternehmen zur Statistik-Beratung und -Lehre. Ausgehend von einem Schwerpunkt in der Halbleiterindustrie sammelte er in zahlreichen Projekten Erfahrungen in den Bereichen Six-Sigma (Blackbelt), statistische Versuchsplanung (DoE) und Industriestatistik allgemein (z.B. Messmittelanalyse MSA).

Für STATCON und die Deutsche Gesellschaft für Qualität (DGQ) gibt er regelmäßig Kurse und Beratungen für alle Bereiche der Industriestatistik. Seit über 10 Jahren kommt vermehrt noch ein Schwerpunkt mit dem Thema statistischer Prozesskontrolle (SPC) hinzu.

Hier können Sie mich treffen:

Softwareunabhängige Kurse

JMP

Design-Expert

Minitab

Vorträge & Publikationen:

2015

  • ENBIS-15 in Prague: How to Understand Complex Datasets Using Graphical Approaches
  • 2nd European EViews User Meeting: New Approaches in Time Series Analysis
  • JMP User Group Meeting Germany: Der Weg zum DOE-Projekt
  • CAMO User Meeting 2015 in Prague: Clarity of Interpretation in the DoE Analysis including Noise Covariables
  • JMP Discovery Summit Europe 2015 (Co-author): Advanced Spatial Data Analysis with JMP

2014

  • 5th European Design-Expert User Meeting: DoE in the Context of Measurement Systems Qualification (MSA)
  • 1st European EViews User Meeting: Modelling Energy-Prices using Weather Data

2012

  • 4th European Design-Expert User Meeting: An Application of new "definitive" Screening Designs

Kontakt: